IR近紅外顯微鏡MH400

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IR近紅外顯微鏡MH400

來源:子非魚 釋出時間:2023-05-04 11:40

IR近紅外顯微鏡MH400配置12寸載物臺,合用於多種尺寸半導體產品檢測。IR近紅外顯微鏡MH400和普通顯微鏡光源不同,它採用的光源是不可見光——紅外線,它能穿透1mm以內矽材料,主要用於半導體行業對於晶片隱裂、倒裝晶片、MEMS器件等無損檢測。

IR近紅外顯微鏡MH400應用案例圖片

CSP/SIP的非破壞檢查

Vcsel晶片隱裂(cracks)

die chip 失效分析

mark標記檢查

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IR近紅外顯微鏡MH400配置12寸載物臺,合用於多種尺寸半導體產品檢測。IR近紅外顯微鏡MH400和普通顯微鏡光源不同,它採用的光源是不可見光——紅外線,它能穿透1mm以內矽材料,主要用於半導體行業對於晶片隱裂、倒裝晶片、MEMS器件等無損檢測。

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